bugün
- trollerin karışması8
- 23 nisan ulusal egemenlik ve çocuk bayramı12
- bülent uygun10
- belediyeler el değiştirince bütün foyalar döküldü20
- fenerbahçe13
- bir kadında ilk baktığınız yer neresi13
- anın görüntüsü20
- sinemaların batma aşamasına gelmesi20
- sivasspor'a verilen penaltı21
- sözlük yazarlarının pankekleri13
- yoga eğitmeni uzun boylu motorcu şamatacı erkek9
- her yaptığı yemeği paylaşan kızın amacı8
- profesyonel fotoğraf makinası tavsiyeleri10
- patiswiss15
- türk kızlarının beğenmediği erkek tipi13
- inmesi binmesinden daha zor olan şeyler14
- 22 nisan 2024 sivasspor fenerbahçe maçı33
- stanleywhite10
- kalbin sadece bir kişiyi seveceği saçmalığı9
- junkman8
- siklememenin getirdiği huzur9
- icardi190511
- fenerbahçe'nin bu sene de şampiyon olamaması8
- yazarların en rum özelliği11
- galatasaray9
- bakire misin diye soran erkek12
- xdearm8
- johnny bellington21
- nihavend longa19
- icardi1905'in adam gibi adam olması15
- chp genel merkezi önündeki aşırı üks araçlar9
- icardi1905 silik olsun kampanyası16
- binali yıldırım'ın servet15
- mersinden kıbrısa yüzmek12
- evlenmezsek yaşlanınca ne yapacağız sorunsalı9
- sözlükte fake alacak kadar ezik olmak8
- güzel kızların size abi demeye başlaması11
- arda güler9
- türk kızlarının zenci sevdası13
- susmayan durmayan israile gemi ticareti8
- bir insan sizi ne kadar kırabilir13
- şu anda çalan şarkı11
- sevgili kendim12
- afrika ülkeleri ve türkiyedeki enflasyon oranları29
- abberline tarzı saçma sapan başlıklar açmak8
- icardinin bir haftada 600 üzeri entry girmesi8
- ekşi sözlük17
- türk kızlarının beğendiği erkek tipi16
- bir kadına yaklaşıp adres sormak9
- 21 nisan 2024 real madrid barcelona maçı19
ışık mikroskobu ile görüntülenemeyen cisim, madde vb. şeylerin görüntülenebildiği mikroskoptur.
elektron yansıması tekniği ile çalışmaktadır.
ülkemizde sayısının artması bilim adına sevindiricidir.
elektron yansıması tekniği ile çalışmaktadır.
ülkemizde sayısının artması bilim adına sevindiricidir.
diğer adı da sem (scanning electron microscope) olan tem, bir tür elektron mikroskopudur. numuneye bir elektron tabancasından elektron gönderilerek manyetik alan oluşturulur. buradan seken ikincil elektronlar yardımıyla görüntü elde edilir. manyetik alanın sorunsuz olabilmesi için numune koyulan alan inert ve vakumludur.
hızlı ve güvenilir bir tekniktir.
hızlı ve güvenilir bir tekniktir.
sem derler.
ivmelendirilmiş elektronların manyetik alan ve vakum ortamı sayesinde demet haline getirilerek incelenecek numune yüzeyine gönderilmesi ve numunenin yüzey özellikleri, tane sınırları, kırılma davranışı, mikroyapısı hakkında bilgiler verir. iyi bir SEM ile 500.000 kat büyütmede net görüntüler alınabilir. Net görüntü alabilmek büyük ölçüde cihazın donanımı (özellikle elektron tabancası), numunenin iyi hazırlanmış olması, operatörün tecrübesine bağlıdır.
SEM'de görüntüleme teknikleri iki farklı tür elektron sayesinde gerçekleştirilir.
1- ikincil elektronlar (secondary electrons, SE) : Numunedeki atomların en dış yörüngelerinden gelen elektronlardır. düşük enerjili fakat sayıca fazladırlar. Numune topografisiyle ilgili bilgi verirler. Dolayısıyla bu tür elektronlarla kırık yüzey numuneleri incelenir ve numunenin kırılma özellikleriyle ilgili bilgiler edinilir.
2- Geri saçılımlı elektronlar (back scattered electrons, BSE) : Gönderilen elektronların, numunenin atomlarının çekirdeğe yakın elektronlarıyla etkileşerek karakteristik ışınlar oluşturan elektronlardır. Bu elektronlar yüksek enerjili fakat sayıca azdır. Hafif elementlerin elektron sayıları az olduğundan, bu elementlerden saçılan BSE'lar daha azdır, dolayısıyla hafif elementlerin olduğu kısımlar daha koyu renkli görünür. Bu kontrast farkından, faz analizi yapılır. Oluşan karakteristik ışınlar sayesinde (x-ışınları) sinyali alınan elementin ne olduğu da belirlenir (energy dispersive x-ray spectroscopy, EDX).
Çalışma prensibi, operasyon, numune hazırlama, görüntü yorumlama gibi konularda daha fazla bilgi için iletişelim, belki bir faydam dokunur.
SEM'de görüntüleme teknikleri iki farklı tür elektron sayesinde gerçekleştirilir.
1- ikincil elektronlar (secondary electrons, SE) : Numunedeki atomların en dış yörüngelerinden gelen elektronlardır. düşük enerjili fakat sayıca fazladırlar. Numune topografisiyle ilgili bilgi verirler. Dolayısıyla bu tür elektronlarla kırık yüzey numuneleri incelenir ve numunenin kırılma özellikleriyle ilgili bilgiler edinilir.
2- Geri saçılımlı elektronlar (back scattered electrons, BSE) : Gönderilen elektronların, numunenin atomlarının çekirdeğe yakın elektronlarıyla etkileşerek karakteristik ışınlar oluşturan elektronlardır. Bu elektronlar yüksek enerjili fakat sayıca azdır. Hafif elementlerin elektron sayıları az olduğundan, bu elementlerden saçılan BSE'lar daha azdır, dolayısıyla hafif elementlerin olduğu kısımlar daha koyu renkli görünür. Bu kontrast farkından, faz analizi yapılır. Oluşan karakteristik ışınlar sayesinde (x-ışınları) sinyali alınan elementin ne olduğu da belirlenir (energy dispersive x-ray spectroscopy, EDX).
Çalışma prensibi, operasyon, numune hazırlama, görüntü yorumlama gibi konularda daha fazla bilgi için iletişelim, belki bir faydam dokunur.
Normal bir mikroskoptan 400 kat daha fazla yakinlastirabilen mikroskop.
Gündemdeki Haberler
güncel Önemli Başlıklar