bugün

taramalı elektron mikroskobu

diğer adı da sem (scanning electron microscope) olan tem, bir tür elektron mikroskopudur. numuneye bir elektron tabancasından elektron gönderilerek manyetik alan oluşturulur. buradan seken ikincil elektronlar yardımıyla görüntü elde edilir. manyetik alanın sorunsuz olabilmesi için numune koyulan alan inert ve vakumludur.
hızlı ve güvenilir bir tekniktir.
güncel Önemli Başlıklar